Soutenance de thèse de Nolann RAVINET
- Soutenance de Thèse
- Evénement scientifique
Soutenance de thèse de Nolann RAVINET, doctorant dans le groupe Optique XUV du Laboratoire Charles Fabry, le mardi 10 décembre 2024 à 15h00 dans l'Auditorium de l'Institut d'Optique Graduate School à Palaiseau, sur le thème : " Développement de revêtements interférentiels pour imageur X haute résolution ".
Résumé : " La fusion par confinement inertiel est une voie privilégiée pour accéder expérimentalement aux conditions extrêmes de la matière (haute-température et haute-pression) via l’implosion d’une cible. Le CEA (commissariat à l’énergie atomique et aux énergies alternatives) et le laboratoire Charles Fabry ont une longue expérience de collaboration dans le développent de diagnostic plasma dans le domaine X [1-2]. Afin de caractériser la symétrie d’implosion, un microscope de résolution micrométrique opérant dans le domaine des rayons X durs est développé. Dans une première phase, ce travail de thèse consiste à élaborer un modèle de réponse instrumentale d’une voie du microscope. La réponse optique des miroirs interférentiels sera étudiée en combinant un calcul de type récursif de la réponse en un point de la surface avec un outil de tracé de rayons [3]. Les revêtements des miroirs seront simulés en tenant compte des effets d’interface entre les matériaux rapportés dans la littérature, tels que les effets d’inter-diffusion ou de rugosité. La partie expérimentale consistera à optimiser les paramètres de dépôts des différents matériaux et à caractériser les empilements déposés par réflectométrie X sur les installations du LCF et également au synchrotron SOLEIL. Enfin les résultats expérimentaux seront comparés aux simulations afin d’obtenir un modèle robuste. Dans une seconde phase, ce modèle sera mis en œuvre pour concevoir les revêtements multicouches des voies du microscope. Une partie importante et innovante de ce travail consistera en l’optimisation d’empilements multicouches présentant des réponses spectrales de largeur bien définies. Les dépôts seront caractérisés en réflectométrie X et en microscopie électronique en transmission pour confirmer la validité de notre modèle de réponse instrumentale. Dans une troisième phase, une étude préliminaire d’une voie haute énergie (≥ 20 keV) sera menée. Les défauts des multicouches étant très pénalisant à haute énergie, l’objectif sera d’identifier les matériaux et les conditions de dépôts permettant de les minimiser. Une attention particulière sera accordée aux effets d’inter-diffusion et de rugosité des couches. "